Zobrazeno 1 - 10
of 130
pro vyhledávání: '"Kim, Junghwa"'
Robust atomic resolution structural characterization of point defects in 3D is a longstanding challenge for electron microscopy. Here, we evaluate multislice electron ptychography as a tool to carry out 3D atomic resolution characterization of point
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2409.07663
Ion implantation is widely used to dope semiconductors for electronic device fabrication, but techniques to quantify point defects and induced damage are limited. While several techniques can measure dopant concentration profiles with high accuracy,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2409.06987
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Understanding the road rage behavior and implications: A textual approach using legal cases in Korea
Publikováno v:
In Transportation Research Interdisciplinary Perspectives December 2022 16
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kim, Junghwa
0048
甲第17960号
工博第3808号
新制||工||1583(附属図書館)
30790
(主査)教授 藤井 聡, 准教授 SCHMOECKERJan-Dirk, 准教授 神田 佑亮
学位規則第4条第1項該当
Doctor of Philosophy (E
甲第17960号
工博第3808号
新制||工||1583(附属図書館)
30790
(主査)教授 藤井 聡, 准教授 SCHMOECKERJan-Dirk, 准教授 神田 佑亮
学位規則第4条第1項該当
Doctor of Philosophy (E
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/2433/180621
Autor:
Kim, Junghwa, Gordiz, Kiarash, Vivona, Daniele, Hu, Lambert, Gilgenbach, Colin, Tappan, Bryce A., Muy, Sokseiha, LeBeau, James M., Shao-Horn, Yang
Publikováno v:
ACS Nano; November 2024, Vol. 18 Issue: 45 p31234-31243, 10p
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-4, 4p