Zobrazeno 1 - 10
of 129
pro vyhledávání: '"Kim, Jeff"'
Autor:
Jung, Raehyuk, Go, Hyojun, Yi, Jaehyuk, Jang, Jiho, Kim, Daniel, Suh, Jay, Lee, Aiden, Han, Cooper, Lee, Jae, Kim, Jeff, Kim, Jin-Young, Kim, Junwan, Park, Kyle, Lee, Lucas, Ha, Mars, Seo, Minjoon, Jo, Abraham, Park, Ed, Kianinejad, Hassan, Kim, SJ, Moon, Tony, Jeong, Wade, Popescu, Andrei, Kim, Esther, Yoon, EK, Heo, Genie, Choi, Henry, Kang, Jenna, Han, Kevin, Seo, Noah, Nguyen, Sunny, Won, Ryan, Park, Yeonhoo, Giuliani, Anthony, Chung, Dave, Yoon, Hans, Le, James, Ahn, Jenny, Lee, June, Saini, Maninder, Sanders, Meredith, Lee, Soyoung, Kim, Sue, Couture, Travis
This technical report introduces Pegasus-1, a multimodal language model specialized in video content understanding and interaction through natural language. Pegasus-1 is designed to address the unique challenges posed by video data, such as interpret
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2404.14687
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kim, Jeff
There is a continual challenge within the construction industry to meet schedule, budget, and quality expectations. At the same time, there is an underlying problem where the older and more experienced workforce is retiring from industry at a faster
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1853/55030
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Financial Management of Property and Construction, 2021, Vol. 26, Issue 2, pp. 181-200.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/JFMPC-11-2019-0085
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2024, Vol. 360 Issue: 1 p189-193, 5p
Autor:
Dixit, Hemant, Lichtenwalner, Daniel J., Scholze, Andreas, Kim, Jeff, Han, Ki Jeong, Ryu, Sei Hyung
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2024, Vol. 358 Issue: 1 p103-107, 5p