Zobrazeno 1 - 10
of 191
pro vyhledávání: '"Kikuchi, Katsuya"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Maezawa, Masaaki, Fujii, Go, Hidaka, Mutsuo, Imafuku, Kentaro, Kikuchi, Katsuya, Koike, Hanpei, Makise, Kazumasa, Nagasawa, Shuichi, Nakagawa, Hiroshi, Ukibe, Masahiro, Kawabata, Shiro
Publikováno v:
J. Phys. Soc. Jpn. 88 (2019) 061012
We propose a prime factorizer operated in a framework of quantum annealing (QA). The idea is inverse operation of a multiplier implemented with QA-based Boolean logic circuits. We designed the QA machine on an application-specific-annealing-computing
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1809.01425
Autor:
Chen, Jiamin, Sakuraba, Yuya, Yakushiji, Kay, Kurashima, Yuichi, Watanabe, Naoya, Liu, Jun, Li, Songtian, Fukushima, Akio, Takagi, Hideki, Kikuchi, Katsuya, Yuasa, Shinji, Hono, Kazuhiro
Publikováno v:
In Acta Materialia November 2020 200:1038-1045
Autor:
Fujino, Masahisa, Araga, Yuuki, Nakagawa, Hiroshi, Takahashi, Yuta, Nanba, Kenji, Yamaguchi, Ayami, Miyata, Akira, Nishi, Takanori, Kikuchi, Katsuya
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 1/7/2023, Vol. 133 Issue 1, p1-10, 10p
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2019 99:125-131
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Melamed, Samson, Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Shimamoto, Haruo, Kikuchi, Katsuya, Aoyagi, Masahiro
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2017 79:380-386
Autor:
Melamed, Samson, Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Shimamoto, Haruo, Kikuchi, Katsuya, Aoyagi, Masahiro
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2016 67:2-8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Feng, Wei, Bui, Tung Thanh, Watanabe, Naoya, Shimamoto, Haruo, Aoyagi, Masahiro, Kikuchi, Katsuya
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2016 63:142-147