Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Khalid, Muhammad Umer"'
Autor:
Khalid, Muhammad Umer
Embedded memories dominate area, power and cost of modern very large scale integrated circuits system on chips ( VLSI SoCs). Furthermore, due to process variations, it becomes challenging to design reliable energy efficient systems. Therefore, fault-
Externí odkaz:
http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-71653
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yousaf, Muhammad Irfan, Bhatti, Muhammad Hussain, Maqbool, Muhammad Amir, Ghani, Aamir, Akram, Muhammad, Ibrar, Iqra, Khan, Amjad, Khan, Rana Abdul Hameed, Kohli, Shoaib Anwar, Siddiq, Muhammad Abu Bakar, Khalid, Muhammad Umer
Publikováno v:
Pakistan Journal of Agricultural Sciences; 2021, Vol. 58 Issue 5, p1511-1521, 11p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
10th IEEE International NEWCAS Conference; 1/ 1/2012, p77-80, 4p
Multilevel gain-cell DRAMs are interesting to improve the area-efficiency of modern fault-tolerant systems-on-chip implemented in deep-submicron CMOS technologies. This paper addresses the problem of long access times in such multilevel gain-cell DRA
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______185::5a6dadabb3e7d2670dcced7b600ba098
https://infoscience.epfl.ch/record/178153
https://infoscience.epfl.ch/record/178153