Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Ketkar Sn"'
Autor:
Dheandhanoo S, Ketkar Sn
Publikováno v:
Analytical Chemistry. 73:2554-2557
The use of ion mobility spectrometry (IMS) for the determination of trace moisture and oxygen in bulk nitrogen has been explored. IMS utilizes atmospheric pressure ionization to ionize trace impurities in the sample gas. Mobility differences between
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::08ec590c573fb54a24900d1c69310f9f
https://doi.org/10.1021/ac010132q
https://doi.org/10.1021/ac010132q
Publikováno v:
International Journal of Mass Spectrometry. 206:7-12
Atmospheric pressure ionization mass spectrometry (APIMS) is being routinely used to quantify trace impurities in bulk gases used in the manufacture of semiconductor devices. APIMS has been successfully applied for the quantification of ppt levels of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0e48a8d3208c98cd0faf9d8cd7193e3b
https://doi.org/10.1016/s1387-3806(00)00373-0
https://doi.org/10.1016/s1387-3806(00)00373-0
Autor:
Ketkar Sn, Thomas J. Bzik
Publikováno v:
Analytical Chemistry. 72:4762-4765
Failure to appropriately account for the nonconstant variance in the calibration data often leads to unreasonable estimates of calibration parameters. In this paper, we contrast the normal regression-based approach (ordinary least squares) as applied
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3e2a4fab7ed04c62161f3b3d7ca12fd6
https://doi.org/10.1021/ac000018s
https://doi.org/10.1021/ac000018s
Autor:
Dheandhanoo S, Ketkar Sn
Publikováno v:
Analytical Chemistry. 75:698-700
Ion mobility spectrometry (IMS) is capable of providing real-time analysis of several impurities in inert gases. Because of its poor peak resolution, the IMS is susceptible to peak interferences. Previous study has shown that the detection limit and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::04cb505e5410a3ac34bcebb4c9999d82
https://doi.org/10.1021/ac020543m
https://doi.org/10.1021/ac020543m
Publikováno v:
Analytical chemistry. 70(9)
Atmospheric pressure ionization mass spectrometry (APIMS) is being routinely used to quantify trace impurities in bulk gases used in the manufacture of semiconductor devices. APIMS has been successfully applied for the quantification of ppt levels of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1aaf25e399be8fc33c21602f7e29f1ce
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/21651274
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/21651274
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.