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pro vyhledávání: '"Kesel, Frank"'
Autor:
Kesel, Frank, Wunderlich, Hans-Joachim
Für den Test hochkomplexer digitaler Schaltungen bieten sich Selbsttestverfahren an, die auf multifunktionalen linear rückgekoppelten Schieberegistern beruhen. Diese erzeugen Pseudozufallsmuster und komprimieren die Testantworten zu einer Signatur.
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Akademický článek
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Autor:
Kesel, Frank, Wunderlich, Hans-Joachim
Viele Selbsttestverfahren für hochintegrierte Schaltungen beruhen auf der Erzeugung von Zufallsmustem mit rückgekoppelten Schieberegistem. Oft wird jedoch für eine ausreichende Fehlererfassung eine unwirtschaftlich große Menge von Zufallsmustern
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