Zobrazeno 1 - 10 of 23 pro vyhledávání: '"Kerkhoff, H. G."'
1
Akademický článek
Shape-resonant and many-electron effects in the S 2p photoionization of SF6.
Autor: Ferrett, T. A., Lindle, D. W., Heimann, P. A., Piancastelli, M. N., Kobrin, P. H., Kerkhoff, H. G., Becker, U., Brewer, W. D., Shirley, D. A.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 10/15/1988, Vol. 89 Issue 8, p4726, 11p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Nitrogen K-shell photoemission and Auger emission from N2 and NO.
Autor: Lindle, D. W., Truesdale, C. M., Kobrin, P. H., Ferrett, T. A., Heimann, P. A., Becker, U., Kerkhoff, H. G., Shirley, D. A.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; Dec1984, Vol. 81 Issue 12, p5375-5378, 4p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Core-level photoelectron and Auger shape-resonance phenomena in CO, CO2, CF4, and OCS.
Autor: Truesdale, C. M., Lindle, D. W., Kobrin, P. H., Becker, U. E., Kerkhoff, H. G., Heimann, P. A., Ferrett, T. A., Shirley, D. A.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; Mar1984, Vol. 80 Issue 6, p2319-2331, 13p
Zobrazit plný text záznamu
4
Design&Test of an Oscillation Based System Architecture for DNA Sensor Arrays
Autor: Hong Liu, Kerkhoff, H. G., Richardson, A., Zhang, X., Pascal Nouet, Florence Azaïs
Publikováno v: HAL
IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop
IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2005, Cannes, pp.234-239
International audience
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7c66602e9a78e5026111602d173c0b76
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106525
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Design and test space exploration of transport-triggered architectures.
Autor: Zivkovic, V. A., Tangelder, R. J. W., Kerkhoff, H. G.
Publikováno v: Proceedings of the Conference: Design, Automation & Test in Europe (9781581132441); Mar2000, p146-153, 8p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
Resonance and Threshold Effects in Photoemission up to 3500 eV.
Autor: Shirley, D. A., Kobrin, P. H., Lindle, D. W., Truesdale, C. M., Southworth, S. H., Becker, U., Kerkhoff, H. G.
Publikováno v: AIP Conference Proceedings; Dec1982, Vol. 94 Issue 1, p569-583, 15p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
A fast and accurate characterization method for full-CMOS circuits.
Autor: Llopis, R. Peset, Kerkhoff, H. G.
Publikováno v: Proceedings of the Conference: European Design Automation (9780818627804); 11/ 1/1992, p410-415, 6p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
A performance analysis tool for performance-driven micro-cell generation.
Autor: LLopis, R. Peset, Koopman, R. J. H., Kerkhoff, H. G., Braat, J. A.
Publikováno v: Proceedings of the Conference: European Design Automation; 2/25/1991, p576-580, 5p
Zobrazit plný text záznamu
9
Periodical
Defect-oriented testing of Josephson logic circuits and systems
Autor: Kerkhoff, H. G., Speek, H.
Publikováno v: Physica C: Superconductivity and its Applications; 2001, Vol. 350 Issue: 3 p261-268, 8p
Zobrazit plný text záznamu
10
Periodical
Computer-aided test flow in core-based design
Autor: Zivkovic, V. A., Tangelder, R. J., Kerkhoff, H. G.
Publikováno v: Microelectronics Journal; 2000, Vol. 31 Issue: 11 p999-1008, 10p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje