A structural investigation of the passive film on iron and iron/chromium alloys

Autor: Kerkar, Moussa

The Electrochemical Polarisation, Photocurrent Spectroscopy and Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) techniques have been used to study the passive film on pure iron and iron alloy samples containing up to 25% chromium. The material used

Externí odkaz: https://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.254414

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Outil de modélisation et de génération d'un échantillon multidimensionnel des pixels d'un imageur CMOS

Autor: Saoud, Bilal, Beznia, Kamel, Bounceur, Ahcène, Kerkar, Moussa

Publikováno v: 15ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, JNRDM
15ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, JNRDM, Jun 2012, Marseille, France

International audience

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::038463036af545b382d0513f70d726dd
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02508066

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

A structural investigation of the passive film on iron and iron/chromium alloys

Autor: Kerkar, Moussa

The Electrochemical Polarisation, Photocurrent Spectroscopy and Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) techniques have been used to study the passive film on pure iron and iron alloy samples containing up to 25% chromium. The material used

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=core_ac_uk__::6b8a156169a206acc6711cc768581841
http://wrap.warwick.ac.uk/106531/1/WRAP_Theses_Kerkar_1989.pdf