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Autor:
Harm, Martin, Kerfin, Oliver
Publikováno v:
emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Köln, 2020
Der Einsatz schnell schaltender Wide-Bandgap-Halbleiter mit dem Ziel der Effizienzsteigerung leistungselektronischer Systeme erfordert präzise EMV-Messtechnik. Nicht nur um sicherzustellen, dass die Grenzwerte eingehalten werden, sondern auch zur Un
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::712ff5e05bddd791430636d05eaa2326
Publikováno v:
emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018
Eine Streifenleitung zur Erzeugung niederfrequenter Referenzfeldstärken wurde realisiert und mess- sowie simulationstechnisch validiert. Abhängigkeiten des Feldwellenwiderstandes von dem Abschlusswiderstand der Leitung wurden theoretisch diskutiert
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::adaedf4e567532699ad0a34a2d551687
Publikováno v:
emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018
Ein Konzept zur Nachbildung von periodisch wiederkehrenden schnellen transienten Signalen unter Laborbedingungen wurde vorgestellt und durch Simulationen und Messungen an einem Hohlleiter validiert. In einer TEM-Zelle konnte der zeitliche Verlauf ein
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7630bb347970ebfed137cdd6f6737cc3
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2019, Vol. 2116 Issue 1, p340007-1-340007-4, 4p, 2 Diagrams, 1 Chart, 2 Graphs
Es wurde ein Versuchsaufbau vorgestellt, mit dem eine transiente Funkenstrecke reproduzierbar erzeugt und ihr Abstrahlverhalten gemessen werden kann. Wesentlicher Bestandteil der Vermessung des Magnetfeldes ist dabei die Kalibrierung einer geeigneten
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::346676edd4a20f21625bf1a059375d8e
Publikováno v:
2016 ESA Workshop on Aerospace EMC (Aerospace EMC); 2016, p1-7, 7p
Publikováno v:
2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC); 2015, p1213-1217, 5p