Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"Kepler, N."'
Publikováno v:
Revista Chilena de Entomología, Vol 45, Iss 2, Pp 257-260 (2019)
Los órdenes Diptera y Coleoptera son los principales grupos de insectos que participan directamente en el proceso de descomposición de un cadáver; sin embargo especies del orden Hymenoptera, especialmente las del género Brachymeria aprovechan la
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/641377eb3ecf4d07ab42b143074b9c35
Publikováno v:
Journal of medical entomology. 58(6)
Adult Calliphoridae flies, as well as their immature stages collected from carcasses, have been used as evidence in forensic investigations to estimate the postmortem interval (PMI), particularly those of the genus Chrysomya as it is one of the first
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Horstmann, M. *, Greenlaw, D., Feudel, Th., Wei, A., Frohberg, K., Burbach, G., Gerhardt, M., Lenski, M., Stephan, R., Wieczorek, K., Schaller, M., Hohage, J., Ruelke, H., Klais, J., Huebler, P., Luning, S., Bentum, R. van, Grasshoff, G., Schwan, C., Cheek, J., Buller, J., Krishnan, S., Raab, M., Kepler, N.
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2004 114:3-8
Autor:
Kepler N. Andrade-Herrera, Jiri Háva
Due to the forensic importance of Dermestes, which allows to determine death times or post mortem interval and the lack of knowledge of this subfamily in a dry forest, this contribution is presented to provide the first records of Dermestes in the pr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8dfef55eb26c083355b8b953c0111a25
Due to the forensic importance of Dermestes, which allows to determine death times or post mortem interval and the lack of knowledge of this subfamily in a dry forest, this contribution is presented to provide the first records of Dermestes in the pr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3e878e8952111b86b35a4b15cea408b4
Autor:
Agrawal, V., Kepler, N., Kidd, D., Krishnan, G., Leshner, S., Bakishev, T., Zhao, D., Ranade, P., Roy, R., Wojko, M., Clark, L., Rogenmoser, R., Hori, M., Ema, T., Moriwaki, S., Tsuruta, T., Yamada, T., Mitani, J., Wakayama, S.
Publikováno v:
2013 Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference; 2013, p1-4, 4p
Publikováno v:
1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat No97TH8319); 1997, p35-41, 7p
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1997, Vol. 18 Issue 7, p312-314, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.