Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Kenneth E. Krause"'
Autor:
Aswin N. Mehta, Kenneth E. Krause, Brad E. Campbell, John M. Carulli, Fred A. Valente, Derek C. Wrobbel
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
It is critical for success in the microprocessor business to understand the relationship between yield and speed- performance. This paper outlines a method for modeling device speed distribution and yield using on-chip ring-oscillator measurements. T
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7eab9c34d677ba9bec21eb0b5b3e42ff
https://doi.org/10.1117/12.361341
https://doi.org/10.1117/12.361341
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.