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pro vyhledávání: '"Kenichi Hamano"'
Autor:
Kenichi, HAMANO
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淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 66:77-89
本研究では、北海道・函館の事例を中心に「村落小学」の実態の一端の解明を試みた。具体的には、函館における小学校の制度化の過程がどのように展開し、村落小学がどのような普及
Autor:
Kenichi, HAMANO
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淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 64:51-62
本稿では、明治元年から「学制」頒布(明治五年)以前までを中心に、明治新政府が掲げた近代学校教育制度の政策をふまえ、我が国における義務教育制度の基盤の形成について検討、
Autor:
Kenichi, HAMANO
Publikováno v:
淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 63:1-11
昭和20年代における新制中学校の生活指導からみた徳育とその教育方法について、「学習指導要領における教育目標からみた生活指導と徳育の視点」「赤塚第一中学校の発足」「学校便
Autor:
Kenichi, HAMANO
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淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 61:19-34
戦後日本の新制中学校に導入された生徒指導と教科外教育活動について、制度化に向けた教育行政側の構想や教育活動としての位置づけを、占領期の教育改革構想もふまえながら東京都
Autor:
Kenichi, Hamano
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淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 59:43-56
本稿では、保育内容に関する史的研究の一環として、愛国婦人会茨城支部の農村託児所事業に着目し、大正期の農村託児所で展開した保育の実状の考察を通して、農村託児所設立の社会
Autor:
Kenichi, Hamano
Publikováno v:
淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 58:31-41
日本の教育の史的側面からみた道徳教育の実態の一端を明らかにするために、明治期の小学校における修身教育の形成について、師範学校附属小学校の事例をふまえて小学校修身科の教
Autor:
Kenichi, Hamano
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淑徳大学短期大学部研究紀要 = Shukutoku University Junior College bulletin. 56:1-13
大学の教職課程における特別活動の指導法等に関する科目について教育行政側の視点をふまえて「特別活動の指導法」のシラバスのモデルを提示し、その記載内容とそれによって行われ
Autor:
Kenichi Hamano, Sachiko Ouchi, Tetsuo Maeda, Shigeya Hirohata, Takashi X. Fujisawa, Hosai Yu, Masaya Saito, Kazunari Kitagaki, Yukimasa Yamashita, Manabu Oya, Seitetsu Yoon, Akira Miki, Hajime Yamada, Yasushi Seo, Akira Kawara, Yoshitake Hayashi, Naoto Kitajima, Takatoshi Nakashima, Ahmed El-Shamy, Hirotaka Kato, Hak Hotta, Satoshi Tani, Yoshihiko Yano, Takeshi Azuma
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International Journal of Molecular Medicine. 30:1048-1052
For patients chronically infected with hepatitis C virus (HCV), mutations in the non-structural 5A (NS5A) gene are important predictive factors for the response to interferon (IFN) therapy. In the present study, factor analysis of the therapeutic res
Autor:
Kenichi Hamano
Publikováno v:
Journal of Asian Culture Society International. 17:91-103
Publikováno v:
Materials Science Forum. :129-132
Two types of in-grown stacking faults in 4H-SiC epitaxial layers (SFs) were investigated using a new photoluminescence (PL) topographic imaging system, macro/micro PL mapping system, TEM and molten KOH etch pit observation. Shockley type SFs (SSFs) o