Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Kenaz, Ralfy"'
Autor:
Kenaz, Ralfy, Ghosh, Saptarshi, Ramachandran, Pradheesh, Watanabe, Kenji, Taniguchi, Takashi, Steinberg, Hadar, Rapaport, Ronen
Publikováno v:
ACS Nano 17 (10), 9188-9196 (2023)
As properties of mono- to few layers of exfoliated van der Waals heterostructures are heavily dependent on their thicknesses, accurate thickness measurement becomes imperative in their study. Commonly used atomic force microscopy and Raman spectrosco
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2211.07437
Autor:
Kenaz, Ralfy, Rapaport, Ronen
Publikováno v:
Rev. Sci. Instrum. 94, 023908 (2023)
Spectroscopic ellipsometry is a widely used optical technique both in industry and research for determining the optical properties and thickness of thin films. The effective use of spectroscopic ellipsometry on micro-structures is inhibited by techni
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2207.14161
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.