Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Keksel, Andrej"'
Publikováno v:
Proceedings of SPIE - Modeling Aspects in Optical Metrology IX - 2023
Scientific optical 3D modeling requires the possibility to implement highly flexible and customizable mathematical models as well as high computing power. However, established ray tracing software for optical design and modeling purposes often has li
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2308.04816
Autor:
Lehmann, Peter, Osten, Wolfgang, Albertazzi Gonçalves, Armando, Bulun, Georgis, Lotz, Marvin, Keksel, Andrej, Stelzer, Gerhard, Seewig, Jörg
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; August 2023, Vol. 12618 Issue: 1 p126180S-126180S-8, 1135629p
In this paper, a physical model of full-field time-domain optical coherence tomography (FF-TD OCT), which focuses the requirements of measuring inner textures of flexible layered samples in industrial applications, is developed and validated by refer
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7df566a10662ae2343bbb28fd9e407a4
Publikováno v:
2018 IEEE SENSORS.
Traditionally, capital goods are preventively maintained in the industry, considering multiple safety factors based on construction data and practical knowledge. High losses of remaining lifetime of the replaced, service-relevant components are taken
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lehmann, Peter, Osten, Wolfgang, Albertazzi Gonçalves, Armando, Eifler, Matthias, Hering, Julian, Keksel, Andrej, von Freymann, Georg, Seewig, Jörg
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; June 2021, Vol. 11782 Issue: 1 p117820M-117820M-16, 11664197p
Construction of a time-domain full-field OCT for non-contact volumetric layer thickness measurement.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 8/9/2023, Vol. 12618, p126180S-126180S-8, 1p