Zobrazeno 1 - 10 of 10 pro vyhledávání: '"Kek, Darja"'
2
Akademický článek
High carrier density CeO 2 dielectrics—implications for MOS devices
Autor: Lappalainen, Jyrki, Kek, Darja, Tuller, Harry L.
Publikováno v: In Journal of the European Ceramic Society 2004 24(6):1459-1462
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Electrical and microstructural investigations of cermet anode/YSZ thin film systems
Autor: Kek, Darja *, Panjan, Peter, Wanzenberg, Elke, Jamnik, Janez
Publikováno v: In Journal of the European Ceramic Society 2001 21(10):1861-1865
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
Investigation of Pt/Si/CeO2/Pt MOS Device Structure by Impedance Spectroscopy.
Autor: Lappalainen, Jyrki, Kek, Darja, Tuller, Harry L.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 12/18/2001, Vol. 678 Issue 1, p1-11, 11p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
Investigation of Pt/Si/CeO2/Pt MOS Device Structure by Impedance Spectroscopy.
Autor: Lappalainen, Jyrki, Kek, Darja, Tuller, Harry L.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 2001, Vol. 699 Issue 1, p1-11, 11p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
High carrier density CeO2 dielectrics—implications for MOS devices
Autor: Lappalainen, Jyrki1,2 jyla@ee.oulu.fi, Kek, Darja2,3, Tuller, Harry L.2
Publikováno v: Journal of the European Ceramic Society. Jun2004, Vol. 24 Issue 6, p1459. 4p.
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Microstructure, optical and dielectric properties of cerium oxide thin films prepared by pulsed laser deposition.
Autor: Balakrishnan, G., Panda, Arun Kumar, Raghavan, C. M., Singh, Akash, Prabhakar, M. N., Mohandas, E., Kuppusami, P., Song, Jung il
Publikováno v: Journal of Materials Science: Materials in Electronics; Sep2019, Vol. 30 Issue 17, p16548-16553, 6p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje