Zobrazeno 1 - 10
of 54
pro vyhledávání: '"Kauffmann N"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Integrated Reliability Workshop IRW 2010
IEEE Integrated Reliability Workshop IRW 2010, 2010, Lake Tahoe, United States
HAL
IEEE Integrated Reliability Workshop IRW 2010, 2010, Lake Tahoe, United States
HAL
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::89b25fa4fbf10718e88f16e15798fa5d
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00604565
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00604565
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Kauffmann, N. ; Blayac, S. ; André, P. ; Riet, M. ; Benchimol, J.L. ; Konczykowska, A. (2000) Technological and geometrical optimisation of InP HBT driver circuit. In: Gallium Arsenide applications symposium. GAAS 2000, 2-6 october 2000, Paris.
The design of high speed circuits and optimization in function of technological and geometrical parameters are presented. MUX-driver design and optimization for 40 Gb/s ETDM transmission illustrate the proposed approach. The impact of collector thick
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a4ec183066cf0f639930be581337dc68
http://amsacta.unibo.it/204/
http://amsacta.unibo.it/204/
Publikováno v:
Kauffmann, N. ; Andre, P. ; Burie, J.R. ; Duchenois, A. M. ; Riet, M. ; Konczykowska, A. (1999) 44 Gb/s InP DHBT MUX-Driver IC for external laser modulation. In: Gallium Arsenide Applications Symposium. GAAS 1999, 4-5 October 1999, Bologna, Italy.
A 2 V pp 44 Gb/s MUX-Driver IC has been fabricated in self-aligned InP DHBT technology to drive a 50 Q EAM. Optical eye diagrams have been measured up to 40 Gb/s with good extinction ratio of 9dB.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a559d708cd138ad5296496f101a56e78
http://amsacta.unibo.it/1433/
http://amsacta.unibo.it/1433/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC); 2011, p1-4, 4p
Publikováno v:
2010 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW); 2010, p72-75, 4p
Publikováno v:
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2007, p101-106, 6p
Autor:
Godin, J., Riet, M., Blayac, S., Berdaguer, Ph., Benchimol, J.-L., Konczykowska, A., Kasbari, A., Andre, Ph., Kauffmann, N.
Publikováno v:
GaAs IC Symposium. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuits Symposium. 22nd Annual Technical Digest 2000 (Cat. No.00CH37084); 2000, p77-80, 4p