Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Kangsen Huey"'
Autor:
David S. Lee, Gregory R. Allen, Gary Swift, Matthew Cannon, Michael Wirthlin, Jeffrey S. George, Rokutaro Koga, Kangsen Huey
Publikováno v:
2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW).
Autor:
Kangsen Huey, David S. Lee, Jeffrey S. George, Gary Swift, Gregory R. Allen, Rokutaro Koga, Matthew Cannon, Michael Wirthlin
Publikováno v:
2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW).
This study examines the single-event response of the Xilinx 28 nm Kintex-7 FPGA irradiated with heavy ions. Results for single-event effects on configuration SRAM cells, user-accessible Flip-Flop cells, and BlockRAM™ memory are provided. This study
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.