Zobrazeno 1 - 10
of 45
pro vyhledávání: '"Kanarsky, T."'
Autor:
Rim, K., Anderson, R., Boyd, D., Cardone, F., Chan, K., Chen, H., Christansen, S., Chu, J., Jenkins, K., Kanarsky, T., Koester, S., Lee, B.H., Lee, K., Mazzeo, V., Mocuta, A., Mocuta, D., Mooney, P.M., Oldiges, P., Ott, J., Ronsheim, P., Roy, R., Steegen, A., Yang, M., Zhu, H., Ieong, M., Wong, H.-S.P.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2003 47(7):1133-1139
Autor:
Cai, J., Rim, K., Bryant, A., Jenkins, K., Ouyang, C., Singh, D., Ren, Z., Lee, K., Yin, H., Hergenrother, J., Kanarsky, T., Kumar, A., Wang, X., Bedell, S., Reznicek, A., Hovel, H., Sadana, D., Uriarte, D., Mitchell, R., Ott, J.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p165-168, 4p
Autor:
Doris, B., Meikei Ieong, Kanarsky, T., Ying Zhang, Roy, R.A., Dokumaci, O., Zhibin Ren, Fen-Fen Jamin, Leathen Shi, Natzle, W., Hsiang-Jen Huang, Mezzapelle, J., Mocuta, A., Womack, S., Gribelyuk, M., Jones, E.C., Miller, R.J., Wong, H.-S.P., Haensch, W.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p267-270, 4p
Autor:
Kedzierski, J., Nowak, E., Kanarsky, T., Zhang, Y., Boyd, D., Carruthers, R., Cabral, C., Amos, R., Lavoie, C., Roy, R., Newbury, J., Sullivan, E., Benedict, J., Saunders, P., Wong, K., Canaperi, D., Krishnan, M., Lee, K.-L., Rainey, B.A., Fried, D.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p247-250, 4p
Autor:
Zhibin Ren, Solomon, P.M., Kanarsky, T., Doris, B., Dokumaci, O., Oldiges, P., Roy, R.A., Jones, E.C., Meikei Ieong, Miller, R.J., Haensch, W., Wong, H.-S.P.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p51-54, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
28th European Solid-State Device Research Conference; 1998, p276-279, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, C., Chang, J., Chung-Hsun Lin, Kumar, A., Gehring, A., Jin Cho, Majumdar, A., Bryant, A., Zhibin Ren, Chan, K., Kanarsky, T., Xinlin Wang, Dokumaci, O., Guillorn, M., Khater, M., Qingyun Yang, Xi Li, Naeem, M., Holt, J., Yongsik Moon
Publikováno v:
2009 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications; 2009, p127-128, 2p
Autor:
Zhibin Ren, Pei, G., Li, J., Yang, B.F., Takalkar, R., Chan, K., Xia, G., Zhu, Z., Madan, A., Pinto, T., Adam, T., Miller, J., Dube, A., Black, L., Weijtmans, J.W., Yang, B., Harley, E., Chakravarti, A., Kanarsky, T., Pal, R.
Publikováno v:
2008 Symposium on VLSI Technology; 2008, p172-173, 2p