Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Kampherbeek, B. J."'
Autor:
Kuiper, V., Kampherbeek, B. J., Wieland, M. J., de Boer, G., ten Berge, G. F., Boers, J., Jager, R., van de Peut, T., Peijster, J. J. M., Slot, E., Steenbrink, S. W. H. K., Teepen, T. F., van Veen, A. H. V.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 3, Issue 1, p74700Q-74700Q-5, 5p
Autor:
Wieland, M. J., de Boer, G., ten Berge, G. F., Jager, R., van de Peut, T., Peijster, J. J. M., Slot, E., Steenbrink, S. W. H. K., Teepen, T. F., van Veen, A. H. V., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 2, Issue 1, p72710O-72710O-8, 8p
Autor:
Slot, E., Wieland, M. J., de Boer, G., Kruit, P., ten Berge, G. F., Houkes, A. M. C., Jager, R., van de Peut, T., Peijster, J. J. M., Steenbrink, S. W. H. K., Teepen, T. F., van Veen, A. H. V., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211P-69211P-9, 9p
Autor:
Chang, S. M., Lin, S. J., Lin, C. A., Chen, J. H., Gau, T. S., Lin, Burn J., Veltman, P., Hanfoug, R., Slot, E., Wieland, M. J., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211R-69211R-9, 9p
Autor:
Steenbrink, S. W. H. K., Kampherbeek, B. J., Wieland, M. J., Chen, J. H., Chang, S. M., Pas, M., Kretz, J., Hohle, C., van Steenwinckel, D., Manakli, S., Le-Denmat, J., Pain, L.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211T-69211T-10, 10p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2000, Vol. 18 Issue 1, p117-121, 5p
Autor:
van den Berg, C., de Boer, G., Boschker, S., Hakkennes, E. A., Holgate, G., Hoving, M., Jager, R., Koning, J. J., Kuiper, V., Ma, Yue, van Mil, I. L., Mook, H. W., Ooms, T., van de Peut, T., Postma, S., Sanderse, M., Scheffers, P., Slot, E., Tudorie, A., Valkering, A. M. C., Venema, N., Vergeer, N., Weirsma, A., Woutersen, S., Wieland, M. J., Kampherbeek, B. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2011, Vol. 7970 Issue: 1 p79700D-79700D-9, 717310p
Autor:
Pain, L., Icard, B., Martin, M., Constancias, C., Tedesco, S., Wiedeman, P., Farah, A., Kampherbeek, B. J., Pieczulewski, C., Kandrashov, H.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2011, Vol. 7970 Issue: 1 p79700Y-79700Y-11, 7890312p
Publikováno v:
Microelectronic Engineering; 2000, Vol. 53 Issue: 1 p279-282, 4p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.