Zobrazeno 1 - 10
of 95
pro vyhledávání: '"Kaminski, V."'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ulashkevich, Yu. V.1 (AUTHOR), Kaminski, V. V.1 (AUTHOR) vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru, Soloviev, S. M.1 (AUTHOR), Sharenkova, N. V.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Semiconductors. Nov2019, Vol. 53 Issue 11, p1511-1513. 3p.
Autor:
Kazanin, M. M.1 (AUTHOR), Kaminski, V. V.1 (AUTHOR) vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru, Grevtsev, M. A.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Semiconductors. Jul2019, Vol. 53 Issue 7, p872-874. 3p.
Autor:
Kaminski, V. V.1 (AUTHOR) Vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru, Sharenkova, N. V.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Semiconductors. Feb2019, Vol. 53 Issue 2, p150-152. 3p.
Autor:
Zalessky, V. G.1, Kaminski, V. V.1 Vladimir.Kaminski@mail.ioffe.ru, Hirai, S.2, Kubota, Y.2, Sharenkova, N. V.1
Publikováno v:
Semiconductors. Apr2018, Vol. 52 Issue 4, p411-413. 3p.
Publikováno v:
Semiconductors. Mar2009, Vol. 43 Issue 3, p305-309. 5p. 1 Chart, 5 Graphs.
Autor:
Kaminski, V., Lüdders, P.
Publikováno v:
Die Gartenbauwissenschaft, 1989 Mar 01. 54(2), 58-61.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/43389827
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.