Zobrazeno 1 - 10 of 18 pro vyhledávání: '"Kambour, K. E."'
1
Conference
Comparison of duty-cycle effects at room temperature in SiON and HfO2 gate PMOS FETS.
Autor: Nguyen, D. D., Kouhestani, C., Kambour, K. E., Bersuker, G., Devine, R. A. B.
Publikováno v: 2014 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (IIRW); 2014, p143-146, 4p
Zobrazit plný text záznamu
2
Conference
Comparison of NTBI and irradiation induced interface states.
Autor: Kambour, K. E., Nguyen, D. D., Kouhestani, C., Devine, R. A. B.
Publikováno v: 2013 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2013, p157-160, 4p
Zobrazit plný text záznamu
3
Conference
On the nature of “permanent” degradation in NBTI.
Autor: Nguyen, D. D., Kouhestani, C., Kambour, K. E., Devine, R. A. B.
Publikováno v: 2013 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2013, p150-153, 4p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Measurement and modeling of duty-cycle effects due to NBTI.
Autor: Kambour, K. E., Nguyen, D. D., Kouhestani, C., Devine, R. A. B.
Publikováno v: 2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 1/ 1/2012, p136-139, 4p
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Extraction of recoverable and permanent trapped charge resulting from negative bias temperature instability.
Autor: Nguyen, D. D., Kouhestani, C., Kambour, K. E., Hjalmarson, H. P., Devine, R. A. B.
Publikováno v: Physica Status Solidi (C); Feb2013, Vol. 10 Issue 2, p259-262, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Model of the Negative-Bias Temperature Instability of p-MOS Transistors.
Autor: Aleksandrov, O. V.1 (AUTHOR) Aleksandr_ov@mail.ru
Publikováno v: Semiconductors. Feb2020, Vol. 54 Issue 2, p233-239. 7p.
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
A novel resistivity measurement method for a homogeneous cylinder shape based on the vdP configuration.
Autor: Ma, Deliang, Chen, Mengfei, Xie, Yifei, Feng, Huaiping, Chang, Jianmei
Publikováno v: Measurement Science & Technology; Oct2022, Vol. 33 Issue 10, p1-10, 10p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Author index.
Publikováno v: 2007 16th IEEE International Pulsed Power Conference; 2007, pcxiii-cxxxii, 20p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
In vitro electrical conductivity of seizing and non-seizing mouse brain slices at 10 kHz.
Autor: Elbohouty, M., Wilson, M. T., Voss, L. J., Steyn-Ross, D. A., Hunt, L. A.
Publikováno v: Physics in Medicine & Biology; 2013, Vol. 58 Issue 11, p3599-3613, 15p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje