Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"Kaltalioglu, E."'
Autor:
Augur, R., Child, C., Ahn, J.H., Tang, T.J., Clevenger, L., Kioussis, D., Masuda, H., Srivastava, R., Oda, Y., Oguma, H., Quon, R., Kim, B., Sheng, H., Hirooka, S., Gupta, R., Thomas, A., Singh, S.M., Fang, Q., Schiwon, R., Hamieh, B., Wornyo, E., Allen, S., Kaltalioglu, E., Ribes, G., Zhang, G., Fryxell, T., Ogino, A., Shimada, E., Aizawa, H., Minda, H., Kim, S.O., Oki, T., Fujii, K., Pallachalil, M., Takewaki, T., Hu, C.K., Sundlof, B., Permana, D., Bolom, T., Engel, B., Labelle, C., Sapp, B., Nogami, T., Simon, A., Shobha, H., Gates, S., Ryan, E.T., Bonilla, G., Daubenspeck, T., Shaw, T., Osborne, G., Grill, A., Edelstein, D., Restaino, D., Molis, S., Spooner, T., Ferreira, P., Biery, G., Sampson, R.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering April 2012 92:42-44
Autor:
Fischer, A.H., Aubel, O., Gill, J., Lee, T.C., Li, B., Christiansen, C., Chen, F., Angyal, M., Bolom, T., Kaltalioglu, E.
Publikováno v:
2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 45th Annual; 2007, p511-515, 5p
Autor:
Chen, F., Ungar, F., Fischer, A.H., Gill, J., Chinthakindi, A., Goebel, T., Shinosky, M., Coolbaugh, D., Ramachandran, V., Siew, Y.K., Kaltalioglu, E., Kim, S.O., Park, K.
Publikováno v:
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; 2006, p490-495, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Augur, R., Child, C., Ahn, J. H., Tang, T. J., Clevenger, L., Kioussis, D., Masuda, H., Ravi Srivastava, Oda, Y., Oguma, H., Quon, R., Kim, B., Sheng, H., Hirooka, S., Gupta, R., Thomas, A., Singh, S. M., Fang, Q., Schiwon, R., Hamieh, B., Wornyo, E., Allen, S., Kaltalioglu, E., Fryxell, T., Ogino, A., Shimada, E., Aizawa, H., Minda, H., Kim, S. O., Oki, T., Fujii, K., Pallachalil, M., Takewaki, T., Hu, C. K., Sundloff, B., Permana, D., Bolom, T., Engel, B., Labelle, C., Sapp, B., Shobha, H., Gates, S., Ryan, E. T., Bonilla, G., Daubenspeck, T., Shaw, T., Osborne, G., Grill, A., Edelstein, D., Restaino, D., Molis, S., Spooner, T., Ferreira, P., Biery, G., Sampson, R.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::15985c550b9e6479675dfdd22dc43ff7
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-79957664080&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-79957664080&partnerID=MN8TOARS
Autor:
Goldberg, C., Park, S. H., Kim, B. Y., Law, S. B., Hamieh, B., Jung, J., Kim, B. H., Rhee, S. H., Oh, M., Mobley, M., Laffosse, E., Kim, A., Thomas, A., Malinge, P., Fryxell, T., Lim, K. J., Park, I. S., Bahierathan, B., Wu, F., Erenturk, B., Jeon, W. C., Choi, H. C., Park, Y. J., Kim, H., Chen, T. Q., Thibaut, S., Niu, C., Zhang, J., Filippi, R., Kaltalioglu, E., Achanta, R., Wang, P. -C, Yang, H., Geronimi, J. P., Pagette, F., Chauhan, V., Ogino, A., Ravi Srivastava, Koshy, R., Baumann, F., Simon, A., Nag, J., Cheng, T., Fitzsimmons, J., Tseng, W., Lin, Y., Sun, Z., Bolom, T., Ko, T. -M, Clevenger, L., Kim, J., Sudijono, J., Sampson, R.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5030b25d2193e842c1680fc347659439
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84883363319&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84883363319&partnerID=MN8TOARS
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Schafbauer, T., Brighten, J., Yi-Cheng Chen, Clevenger, L., Commons, M., Cowley, A., Esmark, K., Grassmann, A., Hodel, U., Hsiang-Jen Huang, Shih-Fen Huang, Yimin Huang, Kaltalioglu, E., Knoblinger, G., Ming-Tsan Lee, Leslie, A., Pak Leung, Baozhen Li, Chuan Lin, Yi-Hsiung Lin
Publikováno v:
2002 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.01CH37303); 2002, p62-63, 2p
Autor:
Schiml, T., Biesemans, S., Brase, G., Burrell, L., Cowley, A., Chen, K.C., Von Ehrenwall, A., Von Ehrenwall, B., Felsner, P., Gill, J., Grellner, F., Guarin, F., Han, L.K., Hoinkis, M., Hsiung, E., Kaltalioglu, E., Kim, P., Knoblinger, G., Kulkarni, S., Leslie, A.
Publikováno v:
2001 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.01 CH37184); 2001, p101-102, 2p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.