Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Kalpat, Sriram"'
Autor:
Ramprasad, R. ∗, Sadd, Michael, Roberts, Doug, Remmel, Tom, Raymond, Mark, Luckowski, Eric, Kalpat, Sriram, Barron, Carole, Miller, Mel
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 69(2):190-194
Autor:
Ramprasad, R., Sadd, Michael, Roberts, Doug, Remmel, Tom, Raymond, Mark, Luckowski, Eric, Kalpat, Sriram, Barron, Carole, Miller, Mel
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2002, Vol. 747 Issue 1, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hsing-Huang Tseng, Tobin, Philip J., Kalpat, Sriram, Schaeffer, Jamie K., Ramón, Michael E., Fonseca, Leonardo R. C., Jiang, Zhixiong X., Hegde, R. I., Triyoso, Dina H., Semavedam, S.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Dec2007, Vol. 54 Issue 12, p3267-3275, 9p, 7 Black and White Photographs, 24 Graphs
Autor:
Abothu, Isaac Robin, Ito, Yukio, Poosanaas, Patcharin, Kalpat, Sriram, Komarneni, Sridhar, Uchino, Kenji
Publikováno v:
Ferroelectrics; Jun1999, Vol. 232 Issue 1, p191-195, 5p
Autor:
Kalpat, Sriram
Publikováno v:
Technical Papers of 2014 International Symposium on VLSI Design, Automation & Test; 2014, p1-1, 1p
Autor:
Kalpat, Sriram
Publikováno v:
2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 1/ 1/2012, p30-30, 1p