Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Kajiyama, Masuo"'
Autor:
Shintani, Michihiro, Mian, Riaz-Ul-Haque, Nakamura, Tomoki, Kajiyama, Masuo, Eiki, Makoto, Inoue, Michiko
Wafer-level performance prediction has been attracting attention to reduce measurement costs without compromising test quality in production tests. Although several efficient methods have been proposed, the site-to-site variation, which is often obse
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2111.01369
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yamanaka, Shoji1 (AUTHOR) syamana@hiroshima-u.ac.jp, Kajiyama, Masuo1 (AUTHOR), Sivakumar, SadasivanN.1 (AUTHOR), Fukuoka, Hiroshi1 (AUTHOR)
Publikováno v:
High Pressure Research. Dec2004, Vol. 24 Issue 4, p481-490. 10p.
