XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report

Autor: Abela, R., Aghababyan, A., Altarelli, M., Altucci, C., Amatuni, G., Anfinrud, P., Audebert, P., Ayvazyan, V., Baboi, N., Baehr, J., Balandin, V., Bandelmann, R., Becker, J., Beutner, B., Blome, C., Bohnet, I., Bolzmann, A., Bostedt, C., Bozhko, Y., Brandt, A., Bratos, S., Bressler, C., Brovko, O., Brück, H., Carneiro, J.-P., Casalbuoni, S., Castellano, M., Castro, P., Catani, L., Cavalleri, A., Celik, S., Chapman, H., Charalambidis, D., Chen, J., Chergui, M., Choroba, S., Cianchi, A., Clausen, M., Collet, E., Danared, H., David, C., Decking, W., Dehler, M., Delsim-Hashemi, H., Dipirro, G., Dobson, B., Dohlus, M., Duesterer, S., Eckhardt, A., Eckoldt, H.-J., Edwards, H., Faatz, B., Fajardo, M., Fateev, A., Feldhaus, J., Filipov, Y., Floettmann, K., Follath, R., Fominykh, B., French, M., Frisch, J., Froehlich, L., Gadwinkel, E., García-Tabarés, L., Gareta, J. J., Garvey, T., Gel'mukhanov, F., Gensch, U., Gerth, C., Goerler, M., Golubeva, N., Graafsma, H., Graeff, W., Grimm, O., Griogoryan, B., Grübel, G., Gutt, C., Hacker, K., Haenisch, L., Hahn, U., Hajdu, J., Han, J. H., Hartrott, M., Havlicek, J., Hensler, O., Honkavaara, K., Honkimäki, V., Hott, T., Howells, M. R., Huening, M., Ihee, H., Ilday, F. Ö., Ischebeck, R., Jablonka, M., Jaeschke, E., Jensch, K., Jensen, J.-P., Johnson, S., Juha, L., Kaerntner, F., Kammering, R., Kapitza, H., Katalev, V., Keil, B., Khodyachykh, S., Kienberger, R., Kim, J.-W., Kim, Y., Klose, K., Kocharyan, V., Koehler, W., Koerfer, M., Kollewe, M., Kong, Q., Kook, W., Kostin, D., Kozlov, O., Kraemer, D., Krasilnikov, M., Krause, B., Krebs, O., Krzywinski, J., Kube, G., Kuhlmann, M., Laich, H., Lange, R., Larsson, M., Lee, R. W., Leuschner, A., Lierl, H., Lilje, L., Limberg, T., Lindenberg, A., Lipka, D., Loehl, F., Ludwig, K., Luong, M., Magne, C., Maquet, A., Marangos, J., Masciovecchio, C., Maslov, M., Matheisen, A., Matyushevskiy, E., Matzen, O., May, H.-J., McNulty, I., McCormick, D., Meulen, P., Meyners, N., Michelato, P., Mildner, N., Miltchev, V., Minty, M., Moeller, W.-D., Möller, T., Monaco, L., Nagl, M., Napoly, O., Neubauer, G., Nicolosi, P., Nienhaus, A., Noelle, D., Nunez, T., Obier, F., Oppelt, A., Pagani, C., Paparella, R., Pedersen, H. B., Petersen, B., Petrosyan, B., Petrosyan, L., Petrov, A., Pflueger, J., Piot, P., Plech, A., Ploenjes, E., Poletto, L., Pöplau, G., Prat, E., Prat, S., Prenting, J., Proch, D., Pugachov, D., Quack, H., Racky, B., Ramert, D., Redlin, H., Rehlich, K., Reininger, R., Remde, H., Reschke, D., Richter, D., Richter, M., Riemann, S., Riley, D., Robinson, I., Roensch, J., Rosmej, F., Ross, M., Rossbach, J., Rybnikov, V., Sachwitz, M., Saldin, E., Sandner, W., Schäfer, J., Schilcher, T., Schlarb, H., Schloesser, M., Schlott, V., Schmidt, B., Schmitz, M., Schmueser, P., Schneider, J., Schneidmiller, E., Schotte, F., Schrader, S., Schreiber, S., Schroer, C., Schuch, R., Schulte-Schrepping, H., Schwarz, A., Seidel, M., Sekutowicz, J., Seller, P., Sellmann, D., Senf, F., Sertore, D., Shabunov, A., Simrock, S., Singer, W., Sinn, H., Smith, R., Sombrowski, E., Sorokin, A. A., Springate, E., Staack, M., Staykov, L., Steffen, B., Stephenson, B., Stephan, F., Stulle, F., Syresin, E., Sytchev, K., Sytchev, V., Tallents, G., Techert, S., Tesch, N., Thom, H., Tiedtke, K., Tischer, M., Tolan, M., Toleikis, S., Toral, F., Treusch, R., Trines, D., Tsakanov, V., Tsakov, I., Tschentscher, T., Ullrich, F.-R., van Rienen, U., Variola, A., Vartaniants, I., Vogel, E., Vogel, J., Vuilleumier, R., Wabnitz, H., Wanzenberg, R., Wark, J. S., Weddig, H., Weiland, T., Weise, H., Wendt, M., Wenndorff, R., Wichmann, R., Will, I., Winter, A., Witte, K., Wittenburg, K., Wochner, P., Wohlenberg, T., Wojtkiewicz, J., Wolf, A., Wulff, M., Yurkov, M., Zagorodnov, I., Zambolin, P., Zapfe, K., Zeitoun, P., Ziemann, V., Zolotov, A., Brinkmann, R., Grabosch, H.-J.

Publikováno v: Hamburg : DESY 1-646 (2006). doi:10.3204/DESY_06-097

This report contains a comprehensive technical description of a new international research infrastructure, the European X-Ray Free-Electron Laser (XFEL) Facility. It was written between October 2005 and June 2006 and provides a realistic cost estimat

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