Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Kaemena, B."'
Publikováno v:
In Ultramicroscopy July 2013 130:87-93
Autor:
Flege, J. I., Kaemena, B., Gevers, S., Bertram, F., Hocker, J., Wilkens, T., Bruns, D., Batjer, J., Schmidt, T., Wollschläger, J., Falta, J.
Publikováno v:
Physical review / B 84(23), 235418 (2011). doi:10.1103/PhysRevB.84.235418
Ultrathin Ce${}_{2}$O${}_{3}$ layers have been grown on Si(111) by reactive metal deposition in an oxygen background and characterized by x-ray standing waves, x-ray diffraction, x-ray photoelectron spectroscopy, and low-energy electron diffraction t
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.