Zobrazeno 1 - 10
of 452
pro vyhledávání: '"Kaczer, Ben"'
Autor:
Beckers, Arnout, Michl, Jakob, Grill, Alexander, Kaczer, Ben, Bardon, Marie Garcia, Parvais, Bertrand, Govoreanu, Bogdan, De Greve, Kristiaan, Hiblot, Gaspard, Hellings, Geert
Cryogenic semiconductor device models are essential in designing control systems for quantum devices and in benchmarking the benefits of cryogenic cooling for high-performance computing. In particular, the saturation of subthreshold swing due to band
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2212.11943
Autor:
Waldhoer, Dominic, Schleich, Christian, Michl, Jakob, Grill, Alexander, Claes, Dieter, Karl, Alexander, Knobloch, Theresia, Rzepa, Gerhard, Franco, Jacopo, Kaczer, Ben, Waltl, Michael, Grasser, Tibor
Charge trapping plays an important role for the reliability of electronic devices and manifests itself in various phenomena like bias temperature instability (BTI), random telegraph noise (RTN), hysteresis or trap-assisted tunneling (TAT). In this wo
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2212.11547
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics September 2023 207
Autor:
Waldhoer, Dominic, Schleich, Christian, Michl, Jakob, Grill, Alexander, Claes, Dieter, Karl, Alexander, Knobloch, Theresia, Rzepa, Gerhard, Franco, Jacopo, Kaczer, Ben, Waltl, Michael, Grasser, Tibor
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability July 2023 146
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics July 2022 193
Publikováno v:
In Solid State Electronics October 2021 184
Autor:
Putcha, Vamsi, Franco, Jacopo, Vais, Abhitosh, Kaczer, Ben, Xie, Qi, Maes, Jan Willem, Tang, Fu, Givens, Michael, Collaert, Nadine, Linten, Dimitri, Groeseneken, Guido
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2020 115