Zobrazeno 1 - 10 of 17 pro vyhledávání: '"Kachelries, M."'
1
Akademický článek
SC30.03 PATIENT-SPECIFIC METRICS FOR SCAN PARAMETER ADAPTATION IN LUNG CANCER SCREENING.
Autor: Schneider, J., Sawall, S., Kachelries, M.
Publikováno v: Physica Medica; 2024 Supplement 1, Vol. 125, pN.PAG-N.PAG, 1p
Zobrazit plný text záznamu
2
Conference
Improved sparsity-constrained image reconstruction applied to clinical CT data.
Autor: Ritschl, L., Bergner, F., Fleischmann, C., Kachelries, M.
Publikováno v: 2010 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC); 2010, p3231-3240, 10p
Zobrazit plný text záznamu
3
Conference
Empirical scatter correction (esc): A new CT scatter correction method and its application to metal artifact reduction.
Autor: Meyer, E., Maas, C., Baer, M., Raupach, R., Schmidt, B., Kachelries, M.
Publikováno v: 2010 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC); 2010, p2036-2041, 6p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Blooming artifact reduction for cardiac CT.
Autor: Steckmann, S., Kachelries, M.
Publikováno v: 2010 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC); 2010, p2030-2035, 6p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
CT image reconstruction using Larrabee.
Autor: Baer, M., Maass, C., Kachelries, M.
Publikováno v: 2009 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC); 2009, p4041-4047, 7p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
High performance median filtering using commodity graphics hardware.
Autor: Wei Chen, Beister, M., Kyriakou, Y., Kachelries, M.
Publikováno v: 2009 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC); 2009, p4142-4147, 6p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
Dual energy CT material decomposition from inconsistent rays (MDIR).
Autor: Maas, C., Grimmer, R., Kachelries, M.
Publikováno v: 2009 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC); 2009, p3446-3452, 7p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
Phase-correlated dynamic CT.
Autor: Kachelries, M.
Publikováno v: 2004 2nd IEEE International Symposium on Biomedical Imaging: Nano to Macro (IEEE Cat No. 04EX821); 2004, p616-616, 1p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje