Zobrazeno 1 - 10
of 220
pro vyhledávání: '"KURTH, E."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Schwind, B., Zemp, E., Jafflin, K., Späth, A., Barth, M., Maigetter, K., Merten, S., Kurth, E.
Publikováno v:
BMC Health Services Research. 23
Background Postpartum home-based midwifery care is covered by basic health insurance in Switzerland for all families with newborns but must be self-organized. To ensure access for all, Familystart, a network of self-employed midwives, launched a new
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c2f59def931266d30121c35ba4e7c9e7
https://doi.org/10.1186/s12913-023-09352-4
https://doi.org/10.1186/s12913-023-09352-4
Publikováno v:
In Solid State Electronics April 2015 106:63-67
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Psychiatrie, Neurologie und medizinische Psychologie, 1965 Jan 01. 17(1), 1-7.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/45251545
Autor:
Knaape, H.-H., Kurth, E.
Publikováno v:
Psychiatrie, Neurologie und medizinische Psychologie, 1969 Dec 01. 21(12), 463-471.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/45240652
Publikováno v:
Current Science, 1955 May 01. 24(5), 157-157.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/24055039
The structural and electrical properties of Ta2O5/65 nm SiO2 structures with different thicknesses of Ta2O5 varying in the range of 0-260 nm are investigated. We find that the stack structures grown by the magnetron sputtering technique and annealed
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::7e6bcbbf09738aae527f6e69a3684e22
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/245868
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/245868
