Zobrazeno 1 - 10
of 91
pro vyhledávání: '"KUNICKI, PIOTR"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gacka, Ewelina, Kunicki, Piotr, Łysik, Paulina, Gajewski, Krzysztof, Ciechanowicz, Paulina, Pucicki, Damian, Majchrzak, Dominika, Gotszalk, Teodor, Piasecki, Tomasz, Busani, Tito, Rangelow, Ivo W., Hommel, Detlef
Publikováno v:
In Ultramicroscopy June 2023 248
Autor:
Gacka, Ewelina, Kunicki, Piotr, Sikora, Andrzej, Bogdanowicz, Robert, Ficek, Mateusz, Gotszalk, Teodor, Rangelow, Ivo W., Kwoka, Krzysztof
Publikováno v:
In Measurement January 2022 188
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Orłowska Karolina, Mognaschi Maria E., Kwoka Krzysztof, Piasecki Tomasz, Kunicki Piotr, Sierakowski Andrzej, Majstrzyk Wojciech, Podgórni Arkadiusz, Pruchnik Bartosz, di Barba Paolo, Gotszalk Teodor
Publikováno v:
Metrology and Measurement Systems, Vol 27, Iss 1, Pp 141-149 (2020)
Scanning electron microscopy (SEM) is a perfect technique for micro-/nano-object imaging [1] and movement measurement [2, 3] both in high and environmental vacuum conditions and at various temperatures ranging from elevated to low temperatures. In ou
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/bbf422e593e44c8595700c477141834f
Autor:
Gajewski, Krzysztof, Kunicki, Piotr, Sierakowski, Andrzej, Szymański, Witold, Kaczorowski, Witold, Niedzielski, Piotr, Ramadan, Sami, Shaforost, Olena, Klein, Norbert, Hao, Ling, Gotszalk, Teodor
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1 May 2019 212:1-8
Autor:
Winiarski, Juliusz, Cieślikowska, Beata, Tylus, Włodzimierz, Kunicki, Piotr, Szczygieł, Bogdan
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 March 2019 470:331-339
Autor:
Orłowska, Karolina, Majstrzyk, Wojciech, Kunicki, Piotr, Sierakowski, Andrzej, Pruchnik, Bartosz, Tomaszewski, Daniel, Prokaryn, Piotr, Grabiec, Piotr, Gotszalk, Teodor
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 5 December 2018 201:10-15
Publikováno v:
In Vacuum December 2016 134:54-62
Autor:
Gajewski, Krzysztof, Goniszewski, Stefan, Szumska, Anna, Moczaɫa, Magdalena, Kunicki, Piotr, Gallop, John, Klein, Norbert, Hao, Ling, Gotszalk, Teodor
Publikováno v:
In Diamond & Related Materials April 2016 64:27-33