Zobrazeno 1 - 10
of 191
pro vyhledávání: '"KOH etching"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alias, Ezzah Azimah, Samsudin, Muhammad Esmed Alif, DenBaars, Steven, Speck, James, Nakamura, Shuji, Zainal, Norzaini
Publikováno v:
Microelectronics International, 2021, Vol. 38, Issue 3, pp. 93-98.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-02-2021-0011
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Xuejian Xie, Yan Peng, Xiufang Chen, Guojie Hu, Xiaobo Hu, Jinying Yu, Xiangang Xu, Hejing Wang
Publikováno v:
Materials
Volume 14
Issue 19
Materials, Vol 14, Iss 5890, p 5890 (2021)
Volume 14
Issue 19
Materials, Vol 14, Iss 5890, p 5890 (2021)
Micropipe, a “killer” defect in SiC crystals, severely hampers the outstanding performance of SiC-based devices. In this paper, the etching behavior of micropipes in 4H-SiC and 6H-SiC wafers was studied using the molten KOH etching method. The sp
Publikováno v:
Sensors, Vol 16, Iss 10, p 1628 (2016)
Silicon microneedle arrays (MNAs) have been widely studied due to their potential in various transdermal applications. However, discrete MNAs, as a preferred choice to fabricate flexible penetrating devices that could adapt curved and elastic tissue,
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/505fb62e68da4ba4ae0c9252a3eb7044
Autor:
Fedja J. Wendisch, Gilles R. Bourret, Mehri Abazari, Nicolas Vogel, Oliver Diwald, Marcel Rey, Hossein Mahdavi, Maurizio Musso
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces
We report on a quick, simple, and cost-effective solution-phase approach to prepare centimeter-sized morphology-graded vertically aligned Si nanowire arrays. Gradients in the nanowire diameter and shape are encoded through the macroscale substrate vi
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.