Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"KISELYCHNYK, Myroslav"'
In this paper presents proposals for the REE reliability ensure methods supplement, which allows to optimize the manufacturing process, to calculate the impact of defects, to predicting parametrical reliability. This will improve overall reliability
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______8936::c860b1f5b3c50e2fa97fd4a90331b7f5
http://hdl.handle.net/11025/25740
http://hdl.handle.net/11025/25740
Publikováno v:
Przegląd Elektrotechniczny; 2019, Vol. 95 Issue 9, p62-66, 5p
This paper describes the method of electronic devices manufacturing optimization by technical and economic criteria.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______8936::5cc892bc7c26584ff1d873e457e8daf7
http://hdl.handle.net/11025/11575
http://hdl.handle.net/11025/11575
Publikováno v:
2016 13th International Conference on Modern Problems of Radio Engineering, Telecommunications & Computer Science (TCSET); 2016, p555-557, 3p
Publikováno v:
2016 17th International Conference Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE); 2016, p1-3, 3p
Autor:
Kiselychnyk, Myroslav
Publikováno v:
2015 16th International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE); 2015, p68-70, 3p
Publikováno v:
Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; 2013, Vol. 6 Issue 12, p116-119, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.