Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"K.R. Voisine"'
Publikováno v:
IEEE Photonics Technology Letters. 17:1184-1186
Growth of a bias point thermal shift induced by dc bias in z-cut LiNbO/sub 3/ optical intensity modulators is quantitatively discussed from the standpoint of its impact on field service. During 20 years of device operation under a worst-case dc bias
Publikováno v:
IEEE Photonics Technology Letters. 16:2457-2459
Reliability for nonhermetic bias-free LiNbO/sub 3/ optical modulators is estimated from aging data in both dry and damp heat conditions. The two dominant failure modes for these devices are: 1) device performance degradation due to temperature-activa
Publikováno v:
IEEE Photonics Technology Letters. 16:2460-2462
Increasing thermal shift of a bias point is observed when dc voltage is applied to z-cut LiNbO/sub 3/ (LN) modulators having asymmetric design; whereas, stable thermal shift is observed in symmetric x-cut LN modulators. A growth of the thermal shift
Publikováno v:
IEEE Photonics Technology Letters; Jun2005, Vol. 17 Issue 6, p1184-1186, 3p
Publikováno v:
IEEE Photonics Technology Letters; Nov2004, Vol. 16 Issue 11, p2457-2459, 3p
Publikováno v:
IEEE Photonics Technology Letters; Nov2004, Vol. 16 Issue 11, p2460-2462, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.