Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"K.M. Batenburg"'
Publikováno v:
2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2020-Proceedings
Avalanche-mode visual light emission in Si diodes is shown to be useful for rapid assessment of the origin of non-ideal currents. In the test structure design, it was important to consider the breakdown-voltage distribution, diode size and contact po
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fdfc98e2211ef8263ae786a7cc17e58b
https://research.utwente.nl/en/publications/dc359f13-021e-4a97-859a-b4694df0f6fb
https://research.utwente.nl/en/publications/dc359f13-021e-4a97-859a-b4694df0f6fb
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.