Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"K. Soulard"'
Publikováno v:
2023 34th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC).
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
This paper describes the new Cameca Akonis secondary ion mass spectrometry (SIMS) tool, which was developed to fill a critical gap in semiconductor fabrication processes by providing high throughput, high precision detection for implant profiles, com
Publikováno v:
Polymer
Polymer, Elsevier, 1999, 40, pp.5219
Polymer, Elsevier, 1999, 40, pp.5219
A new transamidation reaction, between an aliphatic secondary amide and an aromatic nitrile, leading to an aromatic amide and an aliphatic nitrile is described in this article. The best conditions have been established: 300°C, no solvent, 2 h, 1 wt.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.