Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"K. Reinhartz"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Component Parts. 11:27-33
The aging characteristics of thin film field effect triodes have been studied under humidity, temperature, and electrical stress. The device characteristics are very sensitive to humidity. In dry argon at room temperature the device characteristics d
Autor:
M. Fabbricotti, K.H. David, J. J. Loferski, K. K. Reinhartz, K.H. Heffels, A.E. van Aerschodt, J.J. Capart
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 18:471-482
Models of the photovoltaic cell proposed by various authors are subjected to a critical examination to isolate their underlying assumptions and to devise possible experimental tests of the models. The results of an investigation of a model in which t
Autor:
K. Reinhartz, S. Peter
Publikováno v:
Zeitschrift für Physikalische Chemie. 24:103-118
Autor:
K. K. Reinhartz
Publikováno v:
2nd E.C. Photovoltaic Solar Energy Conference ISBN: 9789400994898
2nd E.C. Photovoltaic Solar Energy Conference
2nd E.C. Photovoltaic Solar Energy Conference
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8c35f5af81fdb243128347a7284d8f2c
https://doi.org/10.1007/978-94-009-9487-4_52
https://doi.org/10.1007/978-94-009-9487-4_52
Autor:
K. Reinhartz
Publikováno v:
3rd Tethers in Space/ Toward Flight International Conference.
Autor:
Klaus K. Reinhartz, David L. Stockman, W. J. Van Der Grinten, Virginia A. Russell, Warren L. Willis
Publikováno v:
Third Annual Symposium on the Physics of Failure in Electronics.
FAILURE mechanisms at surfaces and interfaces in thin film structures have been studied in thin film field effect triodes. These triodes are very suitable for the study of failures at semiconductor-insulator interfaces as the electrical characteristi
An Electron Microprobe Analysis of Cu2−x Layers Chemiplated on Single Crystals and Thin Films of CdS
Autor:
J. J. Loferski, A. P. v. Rosenstiel, K. K. Reinhartz, M. Fabbricotti, A. v. Aerschodt, A. P. Voskamp
Publikováno v:
Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse ISBN: 9783662228456
Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse ISBN: 9783662121108
Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse ISBN: 9783662121108
The cupreous sulphide barrier layer in cadmium sulphide solar cells was investigated using an electron microprobe. In typical high efficiency thin film cells the cupreous sulphide was relatively homogeneous and its average thickness was approximately
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6ac2ec435444296cbc83abb6e5a2efb3
https://doi.org/10.1007/978-3-662-24778-5_75
https://doi.org/10.1007/978-3-662-24778-5_75
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.