Zobrazeno 1 - 10
of 242
pro vyhledávání: '"K. Paredis"'
Publikováno v:
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV.
The ever-increasing complexity of materials and architectures in nanoelectronics devices has driven the demand for new high-resolution imaging methods. Specifically, for three-dimensional (3D) analysis of confined volumes, atomic force microscopy (AF
Autor:
A. Thiam, Johan Swerts, J. Jussot, Dan Mocuta, Monique Ercken, Nouredine Rassoul, K. Paredis, Christopher J. Wilson, K.B. Gavan, L. Wouters, Adrien Vaysset, Danny Wan, C. Huyghebaert, Iuliana Radu, S. Sayan, Laurent Souriau, Mauricio Manfrini
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.