Zobrazeno 1 - 10
of 71
pro vyhledávání: '"K. Galiano"'
Autor:
Pran K. Paul, Aaron R. Arehart, Tyler J. Grassman, D. W. Cardwell, K. Galiano, Krishna Aryal, Jonathan P. Pelz, Christine Jackson, Steven A. Ringel, Sylvain Marsillac
Publikováno v:
IEEE Journal of Photovoltaics. 5:1482-1486
Nanometer-scale deep-level transient spectroscopy (nano-DLTS) is used to simultaneously map the spatial distribution of the $E_V$ + 0.47 eV trap in p-type Cu(In,Ga)Se2 with surface topography, providing a spatially resolved correlation between electr
Autor:
Julia I. Deitz, Santino D. Carnevale, D. A. Gleason, Aaron R. Arehart, Tyler J. Grassman, Z. Zhang, S.A. Ringel, K. Galiano, Jonathan P. Pelz
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 24:1056-1057
Autor:
D. A. Gleason, K. Galiano, Eric R. Heller, Aaron R. Arehart, Steven A. Ringel, Jeff L. Brown, Jonathan P. Pelz, Albert Hilton, Donald L. Dorsey
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 114:053510
Scanning probe deep-level transient spectroscopy (SP-DLTS) is applied to cross-sectioned, fully processed, commercially sourced AlGaN/GaN Schottky barrier diodes (SBDs) and high electron mobility transistors (HEMTs) biased in situ. The SBD and HEMT s
Autor:
D. W. Cardwell, Santino D. Carnevale, Steven A. Ringel, John A. Carlin, K. Galiano, Aaron R. Arehart, Tyler J. Grassman, Daniel J. Chmielewski, Pran K. Paul
Publikováno v:
2016 IEEE 43rd Photovoltaic Specialists Conference (PVSC).
This work investigates 2.05 eV bandgap (Al)GaInP alloys for use as the top junction of IMM solar cells. We explore balancing alloy composition and lattice constant as two complementary variables to achieve the target bandgap in one material system. H
Autor:
Pran K. Paul, Santino D. Carnevale, D. A. Gleason, Julia I. Deitz, Jonathan P. Pelz, Aaron R. Arehart, Tyler J. Grassman, K. Galiano, Steven A. Ringel, Brian M. McSkimming, Z. Zhang, James S. Speck
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 123:224504
Defects in semiconductors lead to deleterious effects in electron devices, but identifying their physical sources can be difficult. An example of this in gallium nitride (GaN) high electron mobility transistors is the well-known trap state located at
Autor:
Robert E. Wharen, John A. Lucas, Ryan J. Uitti, Robert J. Witte, K. Galiano, Margaret F. Turk, Alois Obwegeser
Publikováno v:
British journal of neurosurgery. 22(5)
The purpose of this study was the development of a new method to correlate functional surgery with outcome measures. Lesions following microelectrode guided globus pallidus internus (GPi) pallidotomy for Parkinson's disease are presented to demonstra
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.