Zobrazeno 1 - 10
of 3 024
pro vyhledávání: '"K. Contreras"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Renato Locks, Gilberto Melo, Marcos E K Contreras, Jorge Chahla, Fabricio Souza Neves, Daniel Fernandes
Publikováno v:
Clinical Journal of Sport Medicine. 32:635-647
Objective To synthesize available evidence about diagnostic accuracy of clinical tests and imaging examinations for femoroacetabular impingement (FAI) syndrome. Design Umbrella review. Setting N/A. Participants N/A. Interventions N/A. Main outcome me
Autor:
Yurany Blanquiceth, W. Zapata-Builes, Lizdany Flórez-Álvarez, Mauricio Rojas, Ana Claudia Ossa-Giraldo, K. Contreras-Ramirez, Juan C. Hernandez
HIV infection still represents a major public health problem worldwide, and a vaccine remains elusive. The study of HIV-exposed seronegative individuals (HESN) brings important information about the natural resistance to HIV, allows a better understa
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0bd0b4e819c09218456fc7923e148c89
https://doi.org/10.1101/2021.03.11.434877
https://doi.org/10.1101/2021.03.11.434877
Publikováno v:
Journal of the Chilean Chemical Society. 63:4211-4216
The X-ray fluorescence spectroscopy technique was used, with a portable equipment, to analyze traces of elements, in a ceramic piece, commonly called “huaco”, identified as the “Throat-Cutter Warrior with Trophy”, and related to the Moche Cul
Publikováno v:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 25:3237-3250
In this paper, a novel framework is presented for designing lifetime-reliable SoCs with self-adaptation capability against aging-induced degradation. The proposed flow utilizes the existing logic built-in-self-test (LBIST) hardware, and software impl
Publikováno v:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 25:2602-2615
Test points are inserted into integrated circuits to increase fault coverage especially in logic built-in self-test schemes. Commercial tools have been developed over the past decade to insert test points in circuits under test, but they are often in
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.