Zobrazeno 1 - 10
of 2 977
pro vyhledávání: '"K S Suh"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
C. Maurer, S. Galmarini, E. Solazzo, J. Kuśmierczyk-Michulec, J. Baré, M. Kalinowski, M. Schoeppner, P. Bourgouin, A. Crawford, A. Stein, T. Chai, F. Ngan, A. Malo, P. Seibert, A. Axelsson, A. Ringbom, R. Britton, A. Davies, M. Goodwin, P.W. Eslinger, T.W. Bowyer, L.G. Glascoe, D.D. Lucas, S. Cicchi, P. Vogt, Y. Kijima, A. Furuno, P.K. Long, B. Orr, A. Wain, K. Park, K.-S. Suh, A. Quérel, O. Saunier, D. Quélo
Publikováno v:
Journal of environmental radioactivity. 255
In 2015 and 2016, atmospheric transport modeling challenges were conducted in the context of the Comprehensive Nuclear-Test-Ban Treaty (CTBT) verification, however, with a more limited scope with respect to emission inventories, simulation period and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5af4fd1671670b4247f2f64e7dca9588
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/36148707
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/36148707
Autor:
K. Lee, D. S. Kim, J. H. Bak, S. P. Ko, W. C. Lim, H. C. Shin, J. H. Lee, J. H. Park, J. H. Jeong, J. M. Lee, T. Kai, H. Sato, J. W. Lee, K. H. Ryu, Y. J. Kim, S. H. Han, B. Y. Seo, K. S. Suh, H. H. Kim, H. T. Jung, D. H. Jang, N. Y. Ji, M. J. Eom, I. H. Kim, K. H. Hwang, Y. J. Song, H. S. Kim
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a05b003ae18f9bee07918abc73b36bdb
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720537
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720537