Zobrazeno 1 - 10
of 137
pro vyhledávání: '"Kähler, D."'
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:619-623
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Abdullah, M., Marwitz, S., Kähler, D., Schultz, H., Kugler, C., Zabel, P., Vollmer, E., Goldmann, T.
Publikováno v:
In Pathology January 2011 43(1):70-72
Autor:
Minoda, H., Yagi, K., Meyer zu Heringdorf, Frank, Meier, A., Kähler, D., Horn-von Hoegen, Michael
Au-induced faceting on a 4° off Si(001) vicinal surface at temperatures between 750 and 880 °C was studied by in situ high-resolution low-energy electron diffraction and ultrahigh vacuum reflection electron microscopy. The formation of an Au-induce
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=unidue___bib::98f8c8146ee8152776ddd38e26262e69
http://prb.aps.org/abstract/PRB/v59/i3/p2363_1
http://prb.aps.org/abstract/PRB/v59/i3/p2363_1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.