Zobrazeno 1 - 10
of 1 218
pro vyhledávání: '"Jurczak M"'
Publikováno v:
In Automation in Construction January 2022 133
Autor:
Sellier, H., Lansbergen, G. P., Caro, J., Collaert, N., Ferain, I., Jurczak, M., Biesemans, S., Rogge, S.
Publikováno v:
Phys. Rev. Lett. 97, 206805 (2006)
We report on spectroscopy of a single dopant atom in silicon by resonant tunneling between source and drain of a gated nanowire etched from silicon on insulator. The electronic states of this dopant isolated in the channel appear as resonances in the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0608159
Autor:
Sellier, H., Lansbergen, G. P., Caro, J., Collaert, N., Ferain, I., Jurczak, M., Biesemans, S., Rogge, S.
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett. 90, 073502 (2007)
We investigate by low-temperature transport experiments the sub-threshold behavior of triple-gate silicon field-effect transistors. These three-dimensional nano-scale devices consist of a lithographically defined silicon nanowire surrounded by a gate
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0603430
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2016 125:189-197
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2016 125:198-203
Autor:
Aoulaiche, M., Simoen, E., Caillat, C., Witters, L., Bourdelle, K.K., Nguyen, B.-Y., Martino, J., Claeys, C., Fazan, P., Jurczak, M.
Publikováno v:
In Solid State Electronics March 2016 117:123-129
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Popovici, M., Redolfi, A., Aoulaiche, M., van den Berg, J.A., Douhard, B., Swerts, J., Bailey, P., Kaczer, B., Groven, B., Meersschaut, J., Conard, T., Moussa, A., Adelmann, C., Delabie, A., Fazan, P., Van Elshocht, S., Jurczak, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1 November 2015 147:108-112
Autor:
Kaczer, B., Larcher, L., Vandelli, L., Reisinger, H., Popovici, M., Clima, S., Ji, Z., Joshi, S., Swerts, J., Redolfi, A., Afanas’ev, V.V., Jurczak, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1 November 2015 147:126-129