Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Jungemann, Ch."'
Autor:
Tyaginov, S., Starkov, I., Enichlmair, H., Jungemann, Ch., Park, J.M., Seebacher, E., Orio, R., Ceric, H., Grasser, T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2011 51(9-11):1525-1529
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.