Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Joseph J. Delecki"'
Autor:
James A. Slinkman, James M. Never, Vaughn P. Gross, Steven H. Voldman, Tom S. Scott, Joseph J. Delecki, Michael J. Hargrove, Martin P. O'Boyle
Publikováno v:
Journal of Electrostatics. 31:237-262
Electrostatic discharge (ESD) performance of a shallow-trench-isolation double-diode protection circuit in CMOS technology is discussed. This paper highlights the sensitivities of these devices to semiconductor process parameters, interaction with ch
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ff45d19138d6c848a99292574265cf00
https://doi.org/10.1016/0304-3886(93)90011-u
https://doi.org/10.1016/0304-3886(93)90011-u
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.