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pro vyhledávání: '"Jorge Ramón Parra-Michel"'
Publikováno v:
Nova Scientia, Vol 5, Iss 9, Pp 51-75 (2012)
La ventaja del uso de las técnicas interferométricas basados en el patrón de moteado ESPI (electronic speckle pattern interferometry) es única ya que se pueden hacer mediciones muy precisas de los campos de desplazamientos que ocurren en la super
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https://doaj.org/article/afd9aa92fc964c1c944542a118c551df
Publikováno v:
Nova Scientia, Vol 5, Iss 9 (2014)
La ventaja del uso de las técnicas interferométricas basados en el patrón de moteado ESPI (electronic speckle pattern interferometry) es única ya que se pueden hacer mediciones muy precisas de los campos de desplazamientos que ocurren en la super
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https://doaj.org/article/e2871a505cf54ec6940300bd42fb1bc0
Autor:
Anel Rocío Carrasco Hernández, Rosa Isela Ruvalcaba Ontiveros, Hilda Esperanza Esparza Ponce, Juan Manuel Olivares Ramírez, Jorge Ramón Parra Michel, José Alberto Duarte Moller
Publikováno v:
Nova Scientia, Vol 14, Iss 29 (2022)
In this work, thin films with a ZnO:Al/Ag/ZnO:Al multilayer structure were deposited by radio frequency (RF) and pulsed DC sources in a magnetron sputtering system on glass substrates at 50 °C with different deposition times of the Ag layer. The res
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