Zobrazeno 1 - 10
of 141
pro vyhledávání: '"Joress, H."'
We describe and demonstrate a new technique for parallel collection of x-ray reflectivity data, compatible with monochromatic synchrotron radiation and flat substrates, and apply it to the in-situ observation of thin-film growth. The method employs a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1711.03183
Autor:
Sullivan, M. C., Ward, M. J., Gutierrez-Llorente, Araceli, Adler, Eli R., Joress, H., Woll, A., Brock, J. D.
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett. 106, 031604 (2015)
During layer-by-layer homoepitaxial growth, both the Reflection High-Energy Electron Diffraction (RHEED) intensity and the x-ray reflection intensity will oscillate, and each complete oscillation indicates the addition of one monolayer of material. H
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1410.0944
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Synchrotron Radiation. May2018, Vol. 25 Issue 3, p706-716. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Weaver JS; Engineering Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899., Pintar AL; Information Technology Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899., Beauchamp C; Materials Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899., Joress H; Materials Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899., Moon KW; Materials Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899., Phan TQ; Engineering Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899.
Publikováno v:
Materials & design [Mater Des] 2021 Nov; Vol. 209.
Autor:
Lei K; Montgomery Blair High School, 57 University Blvd E., Silver Spring, Maryland 20901, USA., Joress H; Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, Maryland 20899, USA., Persson N; Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, Maryland 20899, USA., Hattrick-Simpers JR; Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, Maryland 20899, USA., DeCost B; Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, Maryland 20899, USA.
Publikováno v:
The Journal of chemical physics [J Chem Phys] 2021 Aug 07; Vol. 155 (5), pp. 054105.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.