Zobrazeno 1 - 10
of 127
pro vyhledávání: '"Jokubavicius, V."'
Autor:
Roccaforte, F., Greco, G., Fiorenza, P., Di Franco, S., Giannazzo, F., La Via, F., Zielinski, M., Mank, H., Jokubavicius, V., Yakimova, R.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 30 December 2022 606
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shtepliuk, I., Khranovskyy, V., Lashkarev, G., Khomyak, V., Lazorenko, V., Ievtushenko, A., Syväjärvi, M., Jokubavicius, V., Yakimova, R.
Publikováno v:
In Solid State Electronics March 2013 81:72-77
Autor:
Sun, J.W., Jokubavicius, V., Liljedahl, R., Yakimova, R., Juillaguet, S., Camassel, J., Kamiyama, S., Syväjärvi, M.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 November 2012 522:33-35
Autor:
Jokubavicius, V., Hens, P., Liljedahl, R., Sun, J.W., Kaiser, M., Wellmann, P., Sano, S., Yakimova, R., Kamiyama, S., Syväjärvi, M.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 November 2012 522:7-10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Tarekegne, A T, Norrman, K, Jokubavicius, V, Syväjärvi, M & Schuh, P 2018, ' Investigation of photoluminescence emission in Al-N co-doped 6H-SiC by temperature-dependent measurements ', 12th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Birmingham, United Kingdom, 02/09/2018-06/09/2018 .
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1202::eeef8034f6ff0606d96cdfef60d886e5
https://orbit.dtu.dk/en/publications/9d314d07-e017-46ab-bb47-c7faa9a0832f
https://orbit.dtu.dk/en/publications/9d314d07-e017-46ab-bb47-c7faa9a0832f
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Physics: Condensed Matter. 31:195501
The negative silicon vacancy (Vsi ) in SiC has recently emerged as a promising defect for quantum technologies. However, its electronic structure has not yet fully characterized. Although the isolated Si vacancy might be only two paramagnetic centers