Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"John D. Reichert"'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 44:3647-3658
A numerical solution of the nonlinear macroscopic laser‐fluid equations for propagation of a Gaussian laser pulse in air is described. The concept of ``utility analysis'' of numerical differencing schemes is introduced. With the computation scheme
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::846682439b38e7281c2eb899158434ec
https://doi.org/10.1063/1.1662815
https://doi.org/10.1063/1.1662815
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 44:3641-3646
Various aspects of the propagation of an intense laser beam through the atmosphere are considered. The basic laser‐fluid equations are presented and a linearized analysis of these equations is given which predicts a very low power threshold for Bru
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4ea83b17cd0aa76897ff4f889233da7f
https://doi.org/10.1063/1.1662814
https://doi.org/10.1063/1.1662814
Autor:
Yuval Ne'eman, John D. Reichert
Publikováno v:
Physical Review Letters. 18:1226-1230
Algebra of factorized Regge pole residues applied to obtain relations between meson-baryon and baryon-baryon exchange processes
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b91fbaa520f81cbd39ae1bd9065c4e89
https://doi.org/10.1103/physrevlett.18.1226
https://doi.org/10.1103/physrevlett.18.1226
Autor:
John D. Reichert
Work on this program included four topics: General Laser Resonator Theory, Distributed Reflection of Light and Damage to Optical Elements, Oxide Layer Thickness on Commercial ALCLAD, and Multipass Chemical Laser Power Amplifiers. In all of these area
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::12b584b29a0533732bba97f51cb9808c
https://doi.org/10.21236/ada088600
https://doi.org/10.21236/ada088600
Autor:
John D Reichert, Janet Shotton Brock
The properties of oxide layers on smooth and rough aluminum surfaces are considered in this study. Using ellipsometric techniques, the layer thickness and the four parameters describing the complex indices of refraction for film and substrate are ass
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9b8c4b685c5ce8e706018cbbd95d9b62
https://doi.org/10.21236/ada056782
https://doi.org/10.21236/ada056782
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.