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"Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes"
"Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes", Jan 2007, France
Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes (FETCH 2007)
Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes (FETCH 2007), Jan 2007, Villard-de-Lans, France. pp.1
"Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes", Jan 2007, France
Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes (FETCH 2007)
Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes (FETCH 2007), Jan 2007, Villard-de-Lans, France. pp.1
National audience; L'augmentation de la complexité des circuits intégrés mixtes et RF rend difficile leur test. Les défauts pouvant apparaître lors de la production de ces circuits sont plus difficilement observables et contrôlables. Plusieurs
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f3deb299b928d2d6111870e63045f087
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261818
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261818
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Groupe de Recherche Test des SoC-SiP
Groupe de Recherche Test des SoC-SiP, Dec 2006, France
Groupe de Recherche Test des SoC-SiP, Dec 2006, France
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::a1e8329e5ccd2470957408a0b64bd94b
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261815
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261815
Publikováno v:
9e Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique
9e Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, May 2006, Rennes, France. pp.000
9e Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, May 2006, Rennes, France. pp.000
National audience
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0718fd8f9416c392ba22ca3a7e99921f
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261811
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261811
Publikováno v:
IEEE Workshop on Design and Diangostics of Electronic Circuits and Systems
IEEE Workshop on Design and Diangostics of Electronic Circuits and Systems, 2006, Pragues, Czech Republic. pp.113-118
IEEE Workshop on Design and Diangostics of Electronic Circuits and Systems, 2006, Pragues, Czech Republic. pp.113-118
International audience
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261825
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Autor:
Ghiotto, A., Delphine Bechevet, Vuong, T. P., Beroulle, V., Khouri, R., Duroc, Y., Joannon, Y., Tedjini, S.
Publikováno v:
HAL
Colloque de l'Agence Rhône-Alpes pour la Maîtrise des Technologies de Mesure
Colloque de l'Agence Rhône-Alpes pour la Maîtrise des Technologies de Mesure, Nov 2006, Grenoble, France
Colloque de l'Agence Rhône-Alpes pour la Maîtrise des Technologies de Mesure
Colloque de l'Agence Rhône-Alpes pour la Maîtrise des Technologies de Mesure, Nov 2006, Grenoble, France
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0ae740f9af1588c16e259e08a451e8c1
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261812
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Conference
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