Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Jerzy Jazwinski"'
Autor:
Jerzy Jazwinski, Janusz Szpytko
Publikováno v:
IFAC Proceedings Volumes. 39:87-92
A model of a three-state technical system has been considered in the paper. The system can pass from the state of full ability into the state of safety unreliability (irreversible state) or into the state of efficiency unreliability (reversible state
Autor:
Janusz Szpytko, Jerzy Jazwinski
Publikováno v:
IFAC Proceedings Volumes. 40:183-185
The system, which can be in two intentional states, is considered. In each intentional state the unreliability of safety and unreliability of efficiency can occur. The efficiency unreliability state is restorable but the safety unreliability state is
Autor:
Bogdan Latecki, Jerzy Jazwinski, Andrzej Panas, Jan M. Lysko, Marianna Gorska, Joanna Lozinko
Publikováno v:
Optoelectronic and Electronic Sensors V.
Thermal conductivity detector (TCD, katarometer) silicon chip was designed with the BSC type (Back Side Contact) electrical contacts, covered by the Cr/Au layer. Detector consists of the two elements - glass plate and silicon chip. There are two flow
Autor:
Elżbieta Malinowska, Zbigniew Brzozka, Katarzyna Wygladacz, Jan M. Lysko, Jan Koszur, Jerzy Jazwinski, Dorota G. Pijanowska
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
The reported back-side contact sensor were fabricated using a standard IC technology. The silver/silver chloride layers were deposited using electrochemical technique. The sensor chips were passivated with silicon nitride layer deposited by LPCVD, wh
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
The construction of the microsensor with the ultrasonic wave Lambda-type as well as the conditions of the wave propagation were presented. The possibilities of the fabrication of multi-layer membranes on the silicon base using the microelectronics te
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
The construction of both the backside contacts and the package for replaceable sensor structure bonding has been described in the paper. Some aspects of technological process for backside contact performance are discussed in the report too. The measu
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.